泰克DSA8300数字采样示波器

　　主要性能指标

　　低时基抖动:

　　大 8 条同时采集的通道上典型值为 425 fs

　　82A04B 相位基准模块中，多 6 条通道上 <100 fs

　　垂直分辨率 – 16 位模数转换器

　　电接口分辨率 lt;20 μV LSB（适用于 1 v 全量程）

　　光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 μW

　　光接口带宽 >80 GHz

　　电接口带宽 >70 GHz

　　为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能

　　80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

　　复杂抖动/噪声/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持复杂测量 TDECQ 1, SNDR 2 (应用)

　　1PAM4 发射机和色散眼图闭合象限。

　　2S信噪失真比。

　　主要特点

　　各种光接口模块、电接口模块和附件模块可以满足您的特定测试要求。

　　光接口模块

　　支持从 155 Mb/s 到 10 Gb/s、40 Gb/s、100 Gb/s 和 50G/100G/200G/400G PAM4 光数据速率的光模块

　　光基准接收机(ORR) 1 满足了标准规定的*性测试中的要求

　　光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准

　　经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗

　　已校准消光比测量和变量校正 ER 测量可确保精度和重复能力

　　电接口模块

　　噪声电采样器（20GHz 时 280 μV，60GHz 时 450 μV，典型值）

　　可以选择带宽2，用户可以平衡带宽和噪声，实现U秀的数据采集性能

　　远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆大限度地减少信号劣化，因为采样器可以放在被测器件附近

　　高性能集成 TDR（10 ps 典型步进上升时间）支持杰出的阻抗不连续性检定，对带宽高达 50GHz 的 S 参数测量提供了高动态范围

　　对速率在 <1 GBd 到 60 GBd 之间的高速 PAM4 和 PAM2 NRZ 串行数据执行抖动、噪声和 BER 分析，了解眼图闭合的确切原因

　　分析

　　分析 PAM4 信号，全面分析每一个 PAM 眼图的抖动、噪声和 BER，并支持一套全局测量， PAM4 信号整体属性

　　100G-SR4/发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 自动化提供对 SR4 短程以太网至关重要的 TX 光属性的全套测试和调试

　　80STDEC 简化了高性能发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 测量，使其非常适合生产和*性验证应用

　　自动模板测试，支持 80 多种行业标准模板。新模板可以导入 DSA8300，支持各种新兴标准。用户可以定义自己的模板，自动进行模板测试

　　抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析 (SDLA) 通过 80SJNB Essentials 和 Advanced 应用软件选项提供

　　高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过 IConnect® 应用软件选项提供

　　400G-M4 光制造分析软件提供了光发射机和色散眼图闭合象限(TDECQ)分析功能

　　高测试吞吐量

　　每条通道高达 200 kS/s 的高采样率

　　高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

　　1光基准接收机(ORR)是一种四阶 Bessel-Thompson 滤波器，拥有标准规定的频响和容限。泰克优化了响应，实现标称拟合和高质量的模板测试结果。

　　2参阅 80E00 电采样模块产品技术资料，获得每种模块的详细介绍。

　　应用

　　设计/检验电信和数据通信器件和系统

　　ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/*性测试

　　高性能真正差分 TDR 测量

　　串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括 S 参数

　　高级抖动、噪声、BER和SDLA分析

　　使用IConnect基于通道和眼图仿真和测量建模