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型 号:BeamMap2 |
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价 格:面议 |
美国Dataray BeamMap2扫描狭缝光束质量分析仪
产品介绍:
美国DataRay的BeamMap2扫描狭缝光束质量分析仪是在BeamR2的升级款,相比于BeamR2的两队狭缝,BeamMap2在旋转圆盘上不同的Z轴位置安装4对狭缝,可以同时在四个不同的z位置观测四个光束轮廓,从而能进行实现实时、多平面测量光束质量M2测量。
产品特点:
·190 ~ 1150nm,硅探测器
·650 ~ 1800 nm, InGaAs探测器
·1000 ~ 2300或2500 nm,
InGaAs(扩展)探测器
·光束直径5µm至4mm,刀口模式2µm
·USB 2.0端口供电;柔性3米电缆;无外部电源
·0.1µm采样和分辨率
·实时X-Y-Z光束剖面分析,束腰位置测量
·实时多Z轴平面扫描狭缝系统
·实时M2,发散角 ,激光准直度测量
光束轮廓分析仪Beammap2系列应用:
·小尺寸连续激光束轮廓分析
·光学组件和仪器对准
·OEM集成
·镜头焦距测试
·实时诊断聚焦和对准误差
型号参数:
型号
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BeamMap2 – XY Scanning Slit Beam Profiler
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CCD材料
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Si
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Si + InGaAs
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InGaAs
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Si+InGaAs (extended)
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波长范围
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190 to 1150 nm
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650 to 1800 nm
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190 to 1800 nm
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190 to 2300 or 2500 nm
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探测尺寸
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5 µm to 4 mm‚
低2 µm(刀口模式)
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10 µm to 3 mm‚
低2 µm(刀口模式)
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10 µm to 3 mm‚
低2 µm(刀口模式)
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10 µm to 2 mm‚低2 µm(刀口模式)
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分辨率精度
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0.1 µm或扫描范围的0.05%
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刷新频率
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5Hz
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测量激光类型
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CW;脉冲激光器,Φµm≥[500 /(PRR以kHz为单位)
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动态范围
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1000:1可调范围
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大功率或辐照度
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0.5 mW / µm²
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系统要求
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Windows,
2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port
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